Dom
News
Tłumaczenie
Projekt
Forum
Pomoc
Członkowie
Zaloguj
Rejestracja
. .
•Profil
kazandibi00
•Wszystkie tłumaczenia
▪▪Prośby o tłumaczenia
•
Ulubione tłumaczenia
•Lista projektów
•Skrzynka odbiorcza
▪Darmowa wymiana jÄ™zyka
•English
•Türkçe
•Français
•Español
•Italiano
•Português brasileiro
•Deutsch
•Română
•عربي
•Русский
•Svenska
•Ελληνικά
•Български
•עברית
•Shqip
•Srpski
•Nederlands
•Dansk
•Português
▪▪Polski
•汉语(简体)
•Lietuvių
•Norsk
•فارسی
•Suomi
•Hrvatski
•日本語
•Català
•Esperanto
•한국어
•Українська
•Føroyskt
•नेपाली
•Kiswahili
Wszystkie tłumaczenia
Szukaj
Prośby o tłumaczenia - kazandibi00
Szukaj
Język źródłowy
Język docelowy
Wyniki 1 - 2 spośród około 2
1
411
Język źródłowy
özet
The atomic force microscope (AFM) is ideally suited for characterizing nanoparticles. It offers the capability of 3D
visualization and both qualitative and quantitative information on many physical properties including size, morphology,
surface texture and roughness. Statistical information, including size, surface area, and volume distributions,
can be determined as well. A wide range of particle sizes can be characterized in the same scan, from 1 nanometer
to 8 micrometers.
Ukończone tłumaczenia
Atomik Kuvvet Mikroskopu
1